MX-IR / BX-IR透视红外线显微镜详细介绍:
非破坏观察半导体器件内部
![]() 铝引线部分(内面观察) |
![]() 焊锡溢出性评价 |
![]() 电极部分(内面观察) |
![]() 半导体/FPD检查显微镜 MX61 |
![]() 工业检查显微镜 MX51 |
![]() 研究级全电动系统 金相显微镜 BX61 |
对应反射光观察和透射光观察。 |
![]() 小型系统显微镜 BXFM |
能嵌入设备的小型设计。 *有关IR照相机和图像软件的详细信息,请与联系我们。 |
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